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真理光學儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實驗室儀器，又有在線檢測系統(tǒng)。真理光學秉持“科學態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供世界先進的高端產(chǎn)品和服務。
　　真理光學匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任本公司董事長兼首席科學家，還擔任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標準化技術委員會副主任委員、天津大學兼職教授，曾擔任中國顆粒學會副理事長，同時也是“歐美克”字號公司的創(chuàng)始人。曾擔任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔任本公司商務總經(jīng)理，中國顆粒學會青年理事潘林超博士、陳進博士擔綱公司的研發(fā)主力。
　　激光（衍射法）粒度儀雖然已得到廣泛應用，但它并不完美，不論是科學基礎方面，還是技術方案方面。真理光學的團隊針對當前市面上儀器存在的不足，展開了系統(tǒng)的理論研究和技術創(chuàng)新，發(fā)現(xiàn)了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現(xiàn)象（ACAD），解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區(qū)（不能測量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對測量結果的影響，發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術方案（專利），解決了前向超大角測量盲區(qū)的問題，使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統(tǒng)一的反演算法（專有技術），消除了不同計算模式給出不同結果的尷尬；設計出了高達20Kfps的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路，使干法測量的精度不亞于濕法測量，對高速噴霧場的測量（時間）分辨率也更高。
　　在納米粒度及Zeta電位儀方面，真理光學提出了比相位分析法（PALS）更先進的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束，用光纖內光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測量重復性大幅度提高。